半导体业内人士都知道：晶圆图是提供追溯产品发生异常原因的重要线索，通过晶圆图的空间分布情况及其模型分析，可以找出可能发生低良率的原因（例如有问题的机台或异常的制程步骤等）。所以，哪怕当前的良率较高，每个工厂也会记录每片晶圆经过测试后产生的晶圆图，以作为工作报告的必备内容或者事故诊断的重要依据。
我们通过分析芯片行业对这个功能的需求，并开展插件预购活动（帆软需求中心上线，0元定制需求，5元购买插件），最终将这一需求作为2018帆软开发者大赛的课题之一，经过参赛者们为期3个多月的竞技角逐，由“xiaobaosuccess”开发的“晶圆图插件”成为优胜作品，在经过帆软测试团队严格审核后，现已在帆软市场正式上线。 晶圆图作为一种图表类型插件，是把一块圆形晶圆切成指定尺寸的最多个小晶片。此插件根据特定的算法计算出指定直径圆内可以切割晶片的最大数量，且自动生成晶片切片的布局，自动生成晶片相对于晶圆中心的经纬度坐标及晶片编码。如果您已经有晶片数据，也可以导入晶片数据，插件会自动生成晶片布局并着色区分各项测试指标。效果如下图：
区间模式图表样例：
叠加模式图表样例：
线性模式图表样例：
【功能介绍】 - 支持自定义数据集配置，数据库查询及内置数据集等；
- 可自定义测试项数据，导入测试数据后，即可将晶圆以图表的方式呈现出来；
- 支持自定义图表样式配置，包括背景颜色、标题、提示框、分割线、晶片大小、直径等配置。
【下载方式】 （1）打开FineReport设计器，搜索“晶圆图”安装下载；
（2）进入帆软市场安装下载，下载地址：https://market.fanruan.com/plugin/793
【使用说明】 （2）安装插件后，下载demo体验：
晶圆图模板.frm
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